Динамическая помехоустойчивость микросхем - Проектирование цифровых микросхем и печатных плат

Динамическая помехоустойчивость - к воздействию импульсных помех различной формы.

Характеристика динамической помехоустойчивости графически описывает способность интегральных схем противостоять импульсным помехам, которые поступают на вход микросхем. Помехи в этом случае представляются импульсами произвольной формы. Измерения этой характеристики можно провести на установке, упрощенное изображение которой показано на (рисунке 3).

схема теста

Рис. 3. Схема теста

В ее состав входит:

    - генератор испытательных сигналов - микросхема, для которой определяется помехоустойчивость

Индикатор срабатывания микросхемы простейшее безинерционное устройство, например, светодиод, фиксирующее события переключения ИМС.

Генерирование импульсов с управляемыми параметрами является весьма сложной задачей. По этой причине, основное распространение при анализе помехоустойчивости получил прямоугольный импульс, хотя импульсы №2-4 имеют вид более близкий к форме реальных помех. При использовании прямоугольного импульса в качестве тестирующего возникает проблема исследования ИМС предельного быстродействия. При этом генератор сигналов должен быть построен на элементах, быстродействие которых на порядок выше быстродействия тестируемой микросхемы.

Переменными величинами здесь являются амплитуда импульса помехи Uп и длительность импульса помехи tп.

Похожие статьи




Динамическая помехоустойчивость микросхем - Проектирование цифровых микросхем и печатных плат

Предыдущая | Следующая