Методы исследования, Метод оптической микроскопии - Разработка композиционного многослойного полимерного радиопоглощающего материала на основе поливинилхлоридных пленок, наполненных диспергированным углеродным волокном

Метод оптической микроскопии

Изучение структуры образцов было проведено с помощью настольного растрового электронного микроскопа Jeol 5000 NeoScope (рис. 7). Микроскоп может работать в режимах высокого и низкого вакуума, оснащен детекторами вторичных и обратно рассеянных электронов. Выбирая подходящее ускоряющее напряжение, электронный микроскоп позволяет исследовать самые разнообразные материалы, получать четкие изображения дефектов поверхностей, инородных примесей превосходного качества в диапазоне увеличений 10X-20 000X. Большое поле зрения позволяет легко находить и сопоставлять разные участки изображений (табл. 9). [36]

Таблица 9. Технические характеристики электронного микроскопа Jeol 5000 NeoScope

Наименование параметра

Значение параметра

Увеличение

От 10х до 20 000х

Режимы работы

Стандартный с высоким вакуумом, низковакуумный

Электронная пушка

Катод в сборе с цилиндром Венельта

Ускоряющее напряжение

15 кВ, 10 кВ,5 кВ (трехпозиционный переключатель)

Столик для образцов

Ручное перемещение по осям X и Y: X: 35 мм, Y: 35 мм

Максимальный размер образца

Диаметр 70 мм, высота 50 мм

Детекторы сигнала

BSE, SE

Отображаемые параметры

Ускоряющее напряжение, увеличение, шкала в мкм

Форматы изображений

1280 x 1024 точек, BMP, TIFF, JPEG

Система откачки

RP, TMP, время откачки ~ 3 мин

Автоматизированные регулировки

Фокус, Яркость, Контраст
электронный микроскоп jeol jcm-5000 neoscope

Рис. 7. Электронный микроскоп Jeol JCM-5000 Neoscope

Похожие статьи




Методы исследования, Метод оптической микроскопии - Разработка композиционного многослойного полимерного радиопоглощающего материала на основе поливинилхлоридных пленок, наполненных диспергированным углеродным волокном

Предыдущая | Следующая