Метод атомно-силовой микроскопии - Разработка композиционного многослойного полимерного радиопоглощающего материала на основе поливинилхлоридных пленок, наполненных диспергированным углеродным волокном

Немало важный интерес представляет изучение структуры поверхности электропроводящего наполнителя, для этого использовали атомно-силовой микроскоп (АСМ) Agilent 7500 AFM (рис. 12). Микроскоп предназначен для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики). Микроскоп имеет сканер большого диапазона с обратной связью позиционирования и атомарным разрешением, что позволяет получать изображения рельефа поверхности связанный с регистрацией малых изгибов упругой консоли зондового датчика (табл. 10).

В основе работы АСМ лежит силовое взаимодействие между зондом и поверхностью, для регистрации которого используются специальные зондовые датчики.

Зонд атомно-силового микроскопа поточечно сканирует поверхность образца, передавая информацию о взаимодействии с атомами поверхности на компьютер. Зонд прикрепляется к кончику тонкой гибкой упругой пластины, называемой кантилевером (рис. 13). Сила, действующая на зонд со стороны поверхности, приводит к изгибу консоли. Регистрируя величину изгиба, можно контролировать силу взаимодействия зонда с поверхностью. Применялся контактный режима сканирования поверхности атомно-силовым микроскопом, при котором зонд все время касался образца и фотодетектор регистрировал угол изгиба кантилевера, таким образом фиксировалась информация о высоте поверхности в каждой точке и напрямую измерялся профиль поверхности.

Таблица 10. Технические характеристики АСМ Agilent 7500 AFM

Наименование параметра

Значение параметра

Диапазон сканирования

90 мкм х 90 мкм

Диапазон по оси Z

>12 мкм

Максимальный размер образца

Диаметр 25 мм, высота 8 мм

Ручное позиционирование X/Y

10 мм

Автоматическое позиционирование Z

10 мм

Лазер

670 нм

атомно-силовой микроскоп agilent 7500 afm

Рис. 12. Атомно-силовой микроскоп Agilent 7500 AFM

схема метода атомно-силовой микроскопии

Рис. 13. Схема метода атомно-силовой микроскопии

Похожие статьи




Метод атомно-силовой микроскопии - Разработка композиционного многослойного полимерного радиопоглощающего материала на основе поливинилхлоридных пленок, наполненных диспергированным углеродным волокном

Предыдущая | Следующая